电子产品恒温恒湿试验箱，恒温恒湿试验机是用于试验电子产品，电子元器件的可靠性试验箱。测试电子产品在高温，低温，湿热，高低温循环，高低温恒定，高温高湿，高温低温，低温高湿等环境下使用试验时的适应性能。厂家：135 3833 3087

电子产品恒温恒湿试验箱用于行业包括电子，电子产品，电子元器件，电源，电脑，手机，电池，电路板，线路板，电机，LED，LCD，PCB，FPC，IC，电阻，电容器，电线，电缆，数码产品，通讯产品，光电，光纤，光伏组件，太阳能组件，运动器材，军工产品，航天航空，塑胶，塑料，橡胶，化工，化学，涂料，五金，陶瓷，建材等行业的产品及零部件。

标准型恒温恒湿试验箱湿度控制能力范围表：

电工委员会标准,IEC68-2-03_试验方法Ca_稳态湿热    
电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷    
电工委员会标准,IEC68-2-02_试验方法B_干热    
中国国家标准,GB/T 2423.1-2001 低温    
中国国家标准,GB/T 2423.2-2001 高温    
中国国家标准,GB/T 2423.3-1993 恒定湿热试验方法    
中国国家标准,GB2423.34-86 温湿度组合循环试验    
中国国家标准,GB/T2423.4-93方法    
中国国家军用环境试验设备方法,GJB150.9-8 湿热试验

美国军用标准,MIL-STD-810F-507.4 湿度    
美国军用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温    
美国军用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温    
美国军用标准,MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验    
美国军用标准,MIL-STD810D方法502.2    
美国军用标准,MIL-STD810方法507.2程序3        
美国半导体行业标准,JESD22-A101-B-2004 恒定温湿度试验    
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验    
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验    

日本工业标准,JIS C60068-2-3-1987 试验Ca:湿热、稳态    
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热    
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温

技术参数及型号规格：

1、型号：KW-TH-80、KW-TH-150、KW-TH-225、KW-TH-408、KW-TH-800、KW-TH-1000

2、内箱尺寸：80L:400×500×400mm、150L:500×600×500mm、225L:500×750×600mm

      408L:600×850×80mm、800L:1000×1000×800mm、1000L:1000×1000×1000mm

3、温度范围：低温0℃/-20℃/-40℃/-70℃～高温150℃

4、湿度范围：标准型（20%～98%RH）低湿型：（5%/10%～98%H）

5、温度波动度：±0.5℃

6、湿度波动度：±2.0%RH

7、温度均匀度：±1.5℃

8、湿度均匀度：±3.0%RH

9、升温速率：约3.0℃～4.0℃/min

10、降温速率：约1.0℃～1.5℃/min

11、电源要求：AC220V/50HZ、AC380V/50HZ

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